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        济南耐克特讲解激光粒度分析仪的测试原理

        济南耐克特讲解激光粒度分析仪的测试原理

        作者:admin   时间:2019-05-31
        行业新闻

        当光束前进过程中遇到粒子时,会产生散射现象。散射光和光束的初始传播方向形成一个θ角。散射角的大小与粒径有关。粒子越大,散射光的θ角就越小。粒子越小,散射光的θ角就越大。通过测量不同角度散射光的强度,可以得到样品的尺寸分布。

        激光粒度分析仪是粒度测量领域中应用最广泛的粒度分析仪之一。具有动态范围宽、测量速度快、操作方便等特点。特别适用于测量粒度分布较广的粉末和液滴。激光粒度分析仪作为一种性能优良、应用领域广泛的粒度分析仪,已广泛应用于其他粉末加工和应用领域。

        随着粉末技术的发展,对粒度分析仪性能的要求也在逐步提高,特别是对粒度分析仪测量范围的要求越来越宽。测量下限为数百甚至数十纳米,测量上限为1000甚至数千微米。这对新型激光粒度分析仪的设计提出了很大的挑战。

        粒子越细,散射光的角度越小,小粒子的散射光在360度范围内均匀分布。为了扩大仪器的下限。需要非常规的光学设计。粒子尺寸越小,散射光在360度空间分布的强度差越小。当颗粒尺寸达到一定极限时,强度差会很小,几乎很难分辨。此时,达到激光粒度仪的下限。光学设计的障碍和散射光的特性决定了传统激光粒度仪的下限一般在0.02微米左右。当粒径较大时,也会遇到技术难题。大颗粒的散射角很小,不容易分辨和测量。为了有效地区分大颗粒的光强分布。它可以简单地延长聚焦透镜的焦距(例如500甚至超过1000毫米),但大焦距会导致激光粒度仪体积的大幅度增加,对小颗粒的大角度散射光的检测非常不方便。同时,对透镜加工精度的要求也会更高。这一技术难点使得传统的激光粒度分析仪难以测量1200微米以上。

        上升激光粒度分析仪采用全范围迈克氏散射理论,充分考虑了被测粒子的光学性质和分散介质的折射率,根据不同粒径粒子在不同时间的散射光强变化,提取了粒子的粒径分布数据。ngle。

        粒子测试数据计算一般分为无约束拟合反演和约束拟合反演。约束拟合反演假设粒子群在计算前符合一定的分布规律,然后根据该规律反演粒子的粒径分布。这种计算相对简单,但由于预假设与实际情况之间不可避免的偏差,约束拟合计算的试验数据不能真实反映粒子群的实际粒径分布。

        无约束拟合反演是在试验前不作任何假设的情况下,直接、准确地利用光强计算颗粒尺寸分布。该计算的前提是合理的探测器设计和粒度分级,对设备本身提出了较高的要求。我公司生产的激光粒度分析仪采用了最佳的非均匀交叉扇形探测器阵列和合理的粒度分类,能够准确测量粒度分布。
        济南耐克特仪器专业生产销售激光粒度仪、激光粒度分析仪、粒度仪以及纳米粒度仪等精密仪器。

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